與我們聯絡

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)

致電

請致電

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)

下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

下載類型
機型或關鍵字

意見回饋

在 2023 年 Tektronix 創新論壇上取得未來工程設計的門票。免費技術研討會。立即註冊。

產品支援和下載

歡迎使用 Tektronix 產品支援

在我們整天與您愉快「討論技術」的時候,我們知道您很著急。所以我們讓您能夠輕鬆地下載所有目前產品和多項已停產產品的手冊、產品規格表和軟體。只要告訴我們您目前所用的產品,我們就會向您呈現所擁有的一切資訊。

您選擇的產品機型已停產,該產品提供以下支援資訊。

  • 產品規格表 文件編號: 發行日期
    DSA8300 Datasheet
    The DSA8300 is a state-of-the-art Equivalent Time Sampling Oscilloscope that provides the highest fidelity measurement and analysis capabilities for Communications Signal Analysis, Serial Data Network Analysis, and Serial Data Link Analysis …
    85W-26988-21
  • 技術文件 文件類型 發行日期
    Semtech Turns to Tektronix DSA8300 Sampling Scope to Characterize New 25-28 Gb/s CDR Devices
    This customer case study illustrates the benefits that Tektronix DataCom test solutions deliver to characterize electrical performance of 100G technologies with the industry’s lowest intrinsic noise floor.     
    個案研究
    Performing RIN and RIN OMA Measurements on the DSA8300 Sampling Oscilloscope
    Detailed information on the measurement of the RIN OMA for the purpose of 10 Gb/s Ethernet, IEEE 802.3ae and similar specifications is presented, using a Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope.
    應用摘要
    Practices for Measurements on 25 Gb/s Signaling
    This application note describes the measurement practices for the characterization and compliance test of the transmitter and receiver for 25+ Gb/s signaling in 100 G systems. Focus is on oscilloscope measurements, with some comments on BERTs.
    應用摘要
    Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement
    As high speed serial data rates continue to increase, the need to maximize margin in measurements increases. Coaxial cables, even good quality ones can impact the measurement margin. Remote heads for oscilloscopes provide clear advantages that …
    應用摘要
    100 Gb/s通訊系統實體層測試
    本應用指南涵蓋了裝配100G系統必需的發射器和接收器測試。由於每種25+ Gb/s HSS技術均有共同的主題,因此我們將檢視100 GbE 相容性測試要求,同時指出其他高速系統 (如光纖通道的32GFEC) 之間的差異。在100 GbE規格存在空白時,如在25-28 Gb/s介面發訊中,我們將採用光學互通論壇公共電介面實行通訊協定 (OIF-CEI)。
    應用摘要
    Choose the Right Platform for Your Jitter Measurements
    This document will explain some essential jitter terms, and then go on to discuss jitter measurements and the tools best suited for evaluating and quantifying jitter, when working with serial data communication architectures.
    技術簡介
    Ultralow drive voltage silicon traveling-wave modulator Paper (Optical Society of America)
    Silicon platforms are emerging as a commercial platform for integrated photonics. To integrate directly with on-chip electronics, drive voltages at or below 1 Vpp are desirable.In this paper from the Optical Society of America, the DSA8300 Series …
    技術簡介
    Tektronix DSA8200 和 DSA8300 取樣示波器之間可程式介面的改變
    本文包含更改可程式介面 (PI) 的摘要。關於 GPIB 和 TekVisa 的討論
    白皮書
    Case Study: Freescale Semiconductor Uses Tektronix IConnect®
    ChallengeFreescale Semiconductor establishes a new approach to the usual methodology adopted in modeling a Transmitter. The transmitter was modeled using only one port (TDR) and assuming lossless Package and Board Transmission line.SolutionUnlike the …
    技術簡介
    消光比 (ER) 校驗白皮書
    本白皮書介紹了一些高準確度 ER 量測的好處,不論是在 10 GbE (乙太網路),利用其相對較低的 ER 要求;還是在 SONET/SDH,支援一致、準確的 ER 結果的方法。
    白皮書
    Tektronix 抖動量測2.0 版解決方案
    抖動特性分析包含複雜的訊號分析,量測需求範圍從簡單到複雜、發送器之間的互通性,以及完整串列資料連結分析所需的通道結果。不管您的特定需求是什麼,Tektronix 都有辦法能夠快速有效地解決您設計上的挑戰。創新的量測解決方案,例如數位化示波器、邏輯分析儀、即時頻譜分析儀、時域反射儀、訊號產生器、高傳真探棒和分析軟體的出現,協助您解決抖動的問題。
    規格摘要表
    儲存裝置測試解決方案
    儲存設備和伺服器產業不斷地推動以最低的成本,達成更快的資料傳輸速度與更大的儲存容量。Tektronix 為各種標準提供強大完善的測試儀器 產品組合,這些標準包括:SATA、SAS、InfiniBand™、Fibre Channel、XAUI 等等。
    規格摘要表
    接收器測試解決方案應用規格摘要表
    接收器測試是需要練習和分析新興設備特性的設計人員所面臨的最大挑戰之一。此規格摘要表提供了 Tektronix 接收器測試解決方案。
    規格摘要表
    自動回覆相容性挑戰
    串列系統設計人員越來越關注互通性與相容性問題。完全自動的相容性解決方案即為解決之道。在關注只有相容性專家知道的細節的同時,他們可以實現一致性制度。利用業界最佳儀器執行量測,確保有精確的結果。自動系統的軟硬體元件能適應不斷出現的標準和不斷變化的相容性規則。
    規格摘要表
    使用 80SJNB 先進軟體進行等化及串列資料連結分析 (SDLA) 方法應用摘要
    本應用摘要說明易損耗/分散通道上執行的串列資料標準,所使用的測試與量測方法,這類通道使接收器的眼圖閉合,通道中使用等化 (FFE/DFE) 方法來打開眼圖。本應用摘要比較了接收器上進行的量測、示範發射器進行的建議量測,並介紹其他串列資料設計人員與測試設計人員感興趣的 SDLA 概念。
    應用摘要
    Tektronix Helps Intel Break the 20 Gbps Cable Barrier Resulting in World’s Fastest and Longest Infiniband Cables
    Challenge - To help Intel develop and evaluate a new generation of 20 Gbps Infiniband optical cables for scaling out advanced computer clusters to distances of up to 100 metres. Solution - A Tektronix AWG7102 arbitrary waveform generator is used to …
    個案研究
    HDMI/DVI 實作方法 (MOI)
    本文件是使用 Tektronix TDS/DSA8200 和取樣模組 80E04 的 HDMI 接收器儀器差動式阻抗量測的程序指南。
    技術簡介
    TDR 和 S 參數量測 - 您需要多少效能?
    在本文中,您將瞭解串列資料網路分析除錯、相容性、驗證和特性分析等應用的準確度要求。此外,您將瞭解TDR 式量測工具如何提供較傳統 VNA 更快速的方式,來進行 S 參數量測。
    應用摘要
    高速互連:特性分析與量測式模型製作
    當現代訊號標準將數位設計推向 GHz 和 GB 範圍時,互連效能成為啟用可靠系統操作的重要因素。此入門手冊除帶領您瞭解挑戰和解決方案,以取得互連連結各部分以精確量測為基礎的互連模型外;還有 It will take you through the theory of時域和頻域量測的理論,和以最有效結果的 TDR/T 量測為基礎之系統效能模型。
    初階
    Tektronix 與 FS2 回覆有關 Altera FPGA 的除錯問題
    延遲
    規格摘要表
    在合成眼狀圖上 InfiniBand 夾具串音之效應
    使用 Infiniband 設計時,由連接裝置產生的串音可能會導致不準確的眼狀圖表示。在從事  InfiniBand 設計特性分析時,本應用摘要將引導您進行從合成眼狀圖移除夾具串音的程序。
    應用摘要
    FB-DIMM 一致性和故障排除解决方案
    不断增长的FB-DIMM 需求对设计者提出新的挑战
    規格摘要表
    使用相位參考模組 82A04 與 TDS/CSA8200 取樣示波器的超低抖動性能
    應用摘要
    使用參考接收器的 10 GB 乙太網路雷射發射器測試中的變化
    參考接收器  (RR) 是電信/資料通訊原始設備製造商、系統安裝商和系統服務商使用的關鍵工具之一,可在示波器上查看眼狀圖和測試雷射的時域訊號品質。本應用摘要將針對 Tektronix 所提供的兩種不同類型時域光學取樣系統與參考接收器過濾功能,並透過一系列量測實例,說明在 10GbE 雷射發射器測試中使用這些系統的方式和時間,以及討論所產生的量測結果。
    應用摘要
    PCB 品質驗證串音量測的時域法應用摘要
    本應用手冊將討論串音的元素,並展示如何使用 TDS8200 系列取樣示波器或 CSA8200 系列通訊訊號分析儀,在單層 PCB 上量測串音。
    應用摘要
    利用 FrameScanTM™ 擷取技術尋找和檢查碼型相關的故障
    隨著位元速率提高到 10 Gbps  (和以上),在各種資料和通訊產品及系統的產生、傳輸及接收訊號中碼型相關的故障將變得更常見。不幸的是,傳統的測試技術已經難以可靠地識別並觀察這些故障,而且極為耗時。利用 DSA8200 取樣示波器中的 FrameScanTM™ 擷取技術,您便能快速、可靠地找出和研究這些碼型相關的故障。本示波器支援自動擷取連續的各個位元  (如果需要,則是完整的資料框架),可協助發現導致錯誤行為的位元序列。
    應用摘要
    10-Gb/s 系統的高可靠性測試 (STM-64/OC-192)
    滿足日益成長的頻寬需求Internet、電子商務、虛擬專用網、IP 電話和其他以資料為中心的應用的發展,正不斷促使增加頻寬的需求。為了跟上發展的步伐,網路供應商正被迫從 2.5 Gb/s 快速移動到 10 Gb/s 的系統部署。隨著此技術的組件價格不斷下降,以及 10 Gb/s 技術可靠性增加,這樣的趨勢只會繼續強化。從 2.5 Gb/s 移動到 10 Gb/s 的系統涉及許多新因素,使過渡成為極為困難的挑戰。配置 80C02 或 80C04 光介面取樣模組的 CSA8000 通訊訊號分析儀為 …
    應用摘要
    Tektronix unveils fastest scope probe yet
    產品文章
    Sequential-sampling scopes+ TDR challenge VNAs
    產品文章
    Eye Measurements on Optical RZ Signals
    This technical brief describes several automatic eye measurements for RZ signals contained in Tektronix' DSA8200 sampling oscilloscope. Examples of real signals are presented, as well as guidelines to ensure valid test results. A method of building …
    技術簡介
    Two good test probes are all you need
    技術簡介
    TDR 阻抗量測:訊號完整性的根據基礎
    使用 Tektronix 取樣示波器取得穩定和準確的 TDR 結果。在當今的高運作頻率,任何影響訊號上升時間、脈衝寬度、時序、抖動或雜訊內容的因素,都可能影響到系統層級的可靠性。不符及變異的訊號,都可能使整體訊號品質降低。為確認訊號的完整性,需在訊號傳輸環境中瞭解並控制阻抗。
    規格摘要表
    Tektronix USB 測試解決方案 (簡中)
    Tektronix 為電氣驗證與相容性測試、訊號路徑特性分析、數位驗證與除錯提供了 USB 解決方案,包括 MSO/DPO4000、MSO4000、DPO4000。
    規格摘要表
    System Extends InfiniBand Cable Reach To 100 m
    產品文章
    Oscilloscope Selection Guide
    From basic signal-checking to high-performance analysis, this selection guide gives an overview of the complete range of oscilloscopes from Tektronix. Comparison tables give high-level specifications and features, and indicate the major differences …
    產生選擇器指南
    PAM4 Signaling in High Speed Serial Technology: Test, Analysis, and Debug
    Learn valuable information on testing PAM4 technology and approaches for validating PAM4 signals.  This application note describes: PAM4 technology for 50-400G applications Provides details of PAM4 signaling Outlines important aspects of …
    應用摘要
    Optical Bandwidth Requirements for NRZ and PAM4 Signaling
    There is confusion about Optical Bandwidth and Electrical Bandwidth of optical channels and how these terms relate to Optical Reference Receivers (ORRs). PAM4 signaling has further complicated minimum bandwidth requirements in order for …
    白皮書
    SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH
    小冊子
    Test methodologies for high-speed serial designs
    產品文章
    Tests Show That Optical Infiniband Cable Performance Exceeds Copper
    技術簡介
  • During ECOC 2014, Tektronix demonstrated 56 Gb/s Eye Diagram analysis on a DSA8300 Sampling Oscillocope.
    期間: 2m 10s
    See how to conduct PAM-4 Analysis using PPG3204 Pattern Generator and DSA8300 Sampling Oscilloscope on multi-level eye diagrams.
    期間: 2m 6s
    Watch Tektronix experts as they provide a brief overview of test technologies being demonstrated on 100G components, transceivers and systems for the Datacom and Long Haul Networking Design …
    期間: 2m 16s
    This webinar reviews TDR basics and the ability to create S-parameters using TDR/TDT measurements to validate high speed channels for debug or de-embedding in a Serial Data Link Analysis …
    期間: 21m 50s
    With PAM4 moving into production and 400G design efforts in full swing, the test challenges around characterization, verification and debug, and manufacturing testing have never been greater. This …
    期間: 18m 33s
    Learn how more margin and higher yields are made possible with lowest optical noise, highest sensitivity solution available today. See comprehensive characterization – TDECQ accuracy and …
    期間: 1m 33s
    At OFC 2018 it’s not just about speed but also interoperability both between standards and among equipment vendors. Here Tek’s Pavel Zivny showcases a demonstration system with a Tektronix DSA8300 …
    期間: 3m 27s
    At this booth, we're demonstrating our DS8300 Digital Sampling Oscilloscope including new PAM4 software modules. 
    期間: 2m 10s
    View this demonstration of interoperability at OFC2013 using Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope and BSA286C BERTScope. Tektronix assisted the Optical Internetworking Forum (OIF) and member …
    期間: 4m 56s
    Designing and developing 100G components, modules and systems requires the latest tools and techniques. In this video, you'll learn how to:Set up a complete system for active optical cable …
    期間: 2m 7s